特点：
     OVM Lite简易版影像测量软件，易学易用；
     高硬度、高精密、不易变形的花岗石底座及立柱，稳定、耐用；
     底光和表面光采用可调式冷光源（LED），性能稳定，方便操作；
    测量过程中可连续变倍，使操作更快捷；
    X、Y轴均采用滑块和导轨结构，减小测量误差，保证测量精度；
   具备图文报表输出功能，可以轻松地得到检测结果。

用途：
    能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制。本产品适用于产品开发、逆向工程、品质检测等领域，如钟表零件、电子接插件、五金冲压件、弹簧、线路板等。

主要功能：
     几何直接点取测量功能，基本几何测量，组合元素测量，形位公差评定，座标系设定，二维图形抄数，     WORD、EXCEL及CAD格式输入。
使用鼠标点取工件影像完成自动捕捉功能，不用移动机台就可以完成测量,操作效率远超投影仪。

量测功能：
基本几何测量：点、线、圆、弧、角度；
组合元素测量：点、线、圆、弧、组合测量，圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点；
形位误差评定：
同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度；
坐标系设定：
有原始座标、座标平移、座标旋转、三点轴，针对物件的图形进行摆正,或是重设新的座标系都很方便。
测量数据输出：
测量数据可输入通用的办公软件进行统计，如WORD、EXCEL格式，并制作成检验报表打印出来。
    
规格参数：
   

型号	JVL250	JVL300
量测行程(X/Y) (mm)	250×150×100	300×200×200
全机尺寸（mm）	1000×650×1650
机台承重kg	30
操作方式	手动（可切换快速移动
放大倍率	光学放大：0.7～4.5×；影像放大：28×~180×
电源要求	110V—220V±10%  50/60HZ
光学尺解析度	0.001mm
线性精度（X/Y）	(3+L/200)μm
量测精度	X和Y轴：±2μm
重复性	±2μm
CCD	进口彩色（41万象素SONY sensor）
测量软件	OVM Lite
适合环境	温度：20～25℃  湿度：50%~60%
电脑配置	高性能主机+17寸纯平彩显